一文读懂XRF：行业缩略词快速参考手册（上）

　　在学习X射线荧光(XRF)知识时，您可能会遇到许多首字母缩略词。您可以在这篇快速参考指南中找到那些您可能在我们网站上看到或在工作中听到的缩略词的含义。

　　1 XRF

　　XRF = X射线荧光。这是一种测量材料元素组成成分的快速、无损方法。点击此处了解有关XRF工作原理的更详细信息。

　　类似的缩略词还包括：

　　EDXRF = 能量色散X射线荧光。这是一种用于手持式XRF设备的快速、高性价比的XRF技术。

　　WDXRF = 波长色散X射线荧光。这是一种比EDXRF更昂贵的XRF实验室技术。

　　HHXRF = 手持式XRF

　　pXRF = 便携式XRF
 

　　 2 探测器

        手持式XRF分析仪使用两种不同类型的探测器：

　　PIN = 硅条带二极管探测器。与SDD相比，这是一种更便宜、速度更慢的旧式技术。

　　SDD = 硅漂移探测器。这是一种较新的技术，每秒可比PIN多计数10倍的X射线。

　　点击此处了解如何确定哪种探测器类型更适合您。

　　3 元素

　　LE = 轻元素。轻元素的X射线能量较弱，难以到达XRF分析仪的探测器。

　　哪种元素算作轻元素应视具体情况而定。我们经常将手持式XRF分析仪可以检测的下列元素称为轻元素：

　　镁(Mg)、铝(Al)、硅(Si)、磷(P)、硫(S)、氯(Cl)、钾(K)、钙(Ca)这些轻元素只能使用装配了SDD探测器的分析仪测量。

　　在其他情况下，轻元素(LE)指的是元素周期表上原子序数较低的元素，用手持式XRF分析仪无法对它们进行测量。这些元素包括钠(Na)、碳(C)、氢(H)和氧(O)。

　　氢(H)到钠(Na)：这些显示为蓝色的LE(轻元素)太轻，无法用手持式XRF分析仪测量。镁(Mg)到钪(Sc)：这些显示为黄色的元素太轻，无法使用装有PIN探测器的分析仪进行测量。要分析这些元素，需要使用装有SDD探测器的手持式XRF分析仪。

　　4校准方法

FP = 基本参数法。这是在XRF分析中使用的一种计算/校准方法，这种方法考虑到了基于原子基本物理特性的元素间效应。当样品质地非常密实时(如大多数金属)，基本参数法(FP)是有助于获得正确答案的重要工具。

　　CN = 康普顿归一化。这是一种用于密度较低样品的更简单的计算/校准方法。
 

　　5 提高生产效率与降低成本
Vanta iX在线分析仪的自动化检测能力大大节省了时间和人力成本。传统上，矿石样品需要送往实验室进行分析，这不仅耗时较长，而且需要额外的人力成本。而Vanta iX可以在现场进行实时分析，无需将样品送往实验室，从而提高了生产效率。

　　下期，我们将为您带来更多精彩的缩略词解析。在下一期内容中，您将发现更多行业内的专业术语和缩写，它们将帮助您更好地理解手持光谱仪领域的专业交流。

　　观世科技

　　江西观世科技公司一家专注于 X射线荧光光谱分析技术，X射线衍射分析技术，进行自动化和智能化改造升级的，生产，研发，销售型国产新品牌企业。

　　观世科技作为一家主营智能化&自动化在线分析监控系统的国产新品牌，积极与各大高校、科技研究院所、考古研究院所、各大企业机构实验室等机关单位密切合作，坚持以人为本，奉行以诚信立业，高质量和优质服务的经营理念，以客户需求为导向，以提高客户生产效率及质量为目标，为广大客户群体实现现场快速检测和品控等解决方案提供专业定制服务和更为全面的现场解决方案。

　　公司当前主要面对的客户群体有：文博考古、地质勘探、地调风控、海洋勘探、石油石化、新能源锂电池，锅炉压力容器、钢厂、冶金、金属材料、飞机制造、再生资源金属、水泥固废、工业固废、三元材料、三元催化、玻璃回收、ROHS检测、公安刑侦、物证鉴定等各个领域。并且将分别在：香港、北京、上海、深圳、广州、南京，杭州、武汉、西安、郑州、石家庄、天津、太原等地设分支机构。

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